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低价供应日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪

更新时间： 2017-11-21
产品型号：
简单描述
低价供应日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪
高速LCR仪，采样率可高至120MHz
100kHz～120MHz的宽频带
高速LCR测试（6ms/采样）
拆卸式前置放大器可选择

详细介绍

低价供应日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪

日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪

日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪概要

高速LCR仪，采样率可高至120MHz

100kHz～120MHz的宽频带

高速LCR测试（6ms/采样）

拆卸式前置放大器可选择

为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能”

放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择，为订货的时的固定选件。(3535与本机不相调的情况下，需要校正)

不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头。

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。

日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪基本参数

型号

3535

测量参数

Z，Y，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)

前置放大器
决定的测量量程

前置放大器	9700-01	9700-02	9700-03
Z和R	100mΩ～1kΩ	500Ω～10kΩ	5kΩ～100kΩ
C	1.33pF～15.9μF	0.133pF～3.18nF	0.1pF～318pF
L	1nH～1.59mH	663nH～15.9mH	6.63μH～159mH
θ	-180.00°～180.00°

测量频率

量程	100kHz～120MHz
分辨率设置	4位(使用前控制板设置)
100.0kHz～1.000MHz	100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz	1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz	10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz	100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
精度	***大± 0.005%，相对于设置值

测量电平

开路接口电压(V) 和恒压(CV)模式	5mV～1V,*大20mA(10.000MHz以下) 5mV～500mV,*大10mA(10.01MHz以上)
分辨率	1mV幅度
精度	±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)
恒流(CC)模式	200μA～20mA,*大1V(10.00MHz以下) 200μA～10mA,*大0.5V(10.01MHz以上)
分辨率	10A幅度
精度	±(10%+50μA)× (2+log f)(f为MHz数)

基本精度

Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°

输出阻抗

50Ω ± 10Ω(100kHz时)

监视

电压0.000V～1.000V
电流0.000mA～20.0mA

限制

电压(设置为CC) 0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA

平均

关，2，4，8，16，32，64

触发

内置触发器，外置触发器
触发延时0.01s～9.99s；0.01s分辨率

比较

可得到两组测量参数：百分比，△%，或值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)

控制盘存储和调用

***多30组

屏幕显示

测量值和比较器的判断结果

显示线数

可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442，9593-01和9446)

接口

GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

操作环境

10～40°C，***大80%rh，无凝结

仓储环境

-10～55°C，***大80%rh，无凝结

供电电源

交流100V～240V，50/60Hz，约50VA

体积及重量

约360宽×130高×360厚(mm)；8.3kg

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